中科院武汉病毒所承担的国家攻关项目——结核分支杆菌耐药性检测基因芯片（2001BA756C）目前已圆满完成计划任务。受科技部委托，武汉市科技局于2005年4月30日组织了项目验收会。验收组由华中农业大学陈焕春院士、武汉大学生命科学院沈萍教授、华中科技大学同济医学院杨渝珍教授、中国科学院生物物理所徐涛研究员、武汉大学化学与分子科学院庞代文教授、华中师范大学生命科学院杨继红教授、湖北疾病控制中心结核病研究所侯双翼研究员等专家组成。
专家们在认真、仔细地阅读书面材料、详细地听取了项目组工作汇报后，一致认为：该项目研究紧扣结核分枝杆菌日益突出的耐药性问题，立项准确，意义重大；根据结核分枝杆菌耐药性与有关基因突变之间的相关性，成功地研制了多种芯片检测技术：1）建立了芯片短寡核苷酸连接技术（SOLAC），实现了耐药性相关基因突变的同步多重检测；2）首次建立了MutS蛋白介导的基因突变检测蛋白质/基因芯片新方法；3）在研究过程中解决了多项生物芯片关键技术，研制出具有广泛应用前景的结核杆菌耐药性检测生物芯片，并与经典方法比较符合率达到87%左右，试制了少量的基因芯片并进行了临床样品的检测，证实了该方法的可行性和先进性；其研究成果在SCI源刊上发表研究论文6篇，国内核心期刊1篇，其中“MutS蛋白介导的基因突变检测蛋白质芯片”一文获得湖北省自然科学优秀论文特等奖；申请国家专利三项，已获授权的专利一项；SOLAC方法和MutS蛋白/基因芯片方法分别为首次报道，属于国际前沿水平；课题组按计划完成了任务书规定的工作任务，达到预期目标，发表了高水平论文，获得专利，取得了原创性研究成果并形成了具有自主知识产权的技术，同意该项目通过验收。
专家们还提出：鉴于结核病是全球性问题，在我国发病率很高，建议国家给予进一步资助，使其成熟和完善，尽快走向临床应用和产业化。
病毒所 梁莉
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